выделяет специфическую и единственную спектральную полосу в какой-то момент времени. Эту полосу пропускания можно фиксировать. В другом варианте монохроматор непрерывно сканирует данный диапазон длин волн или движется последовательно от одной специфической спектральной полосы к другой. В последнем случае система носит название последовательного спектрометра. Полихроматор — это спектрометр, который выделяет несколько специфичных спектральных полос одновременно. Полихроматор называют также одновременной системой. Используют также термин «прямое измерение», чтобы подчеркнуть различие между детектором и фотоэмульсией. До появления многоканальных детекторов выбор этих спектральных полос был фиксирован. Недавнее появление многоканальных детекторов, таких, как приборы с переносом заряда (ППЗ), изменило классификацию спектрометров. Детектор ППЗ может заменить фотопластинку и устанавливается в то же положение, обеспечивая комбинацию спектрографа ( регистрирует спектр полностью) и спектрометра (измеряет интенсивности в любой части спектра).

Следует отметить, что для получения истинной интенсивности линии, когда интенсивность фона вносит существенный вклад в суммарную интенсивность линии, необходимо измерять фон в области длины волны линии определяемого элемента или вблизи нее. Это является обычным в случае плазмы.

□ В качестве диспергирующего компонента спектрометра призмы были вытеснены решетками.

Диспергирующие устройства в спектрометрах бывают двух типов: призмы и дифракционные решетки. В большинстве современных приборов используются дифракционные решетки благодаря их более высоким дисперсионным характеристикам. Дифракционная решетка состоит из периодических параллельных штрихов или линий на плоской или вогнутой поверхности, которые налагают периодическое изменение на амплитуду и фазу падающей волны. Первая дифракционная решетка была создана Фраунгофером (1821г.), а первая вогнутая решетка была нарезана Роуландом (1890 г.). В настоящее время используют только отражательные решетки.

Характеристики дифракционных решеток включают:

— расстояние d между двумя последовательными штрихами;

— плотность штрихов (т. е. число на единицу длины) п;

— ширину решетки W;

— общее число штрихов TV = nW;

— угол в между нормалью к поверхности решетки и нормалью к поверхности штриха в случае штрихов пилообразной формы (рис. 8.1-7).

Типичные значения для п находятся в интервале 1000-4800 штрих-мм-1. Ширина решетки может превышать 100 мм. В АЭС применяют как стандартные решетки (плотность штрихов > 600 штрих-мм-1, используется большая сторона треугольного профиля), так и решетки эшелле (низкая плотность штрихов, < 100 штрих-мм-1, используется малая сторона профиля, большой угол падения).

Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию