азотом, чтобы уменьшить образование молекулярных частиц, а также проводить анализ легкоплавких проб.

В отличие от ИСП-МС, где сначала применяли масс-спектрометры низкого разрешения, в первом промышленно произведенном ТРМС использован масс-спектрометр высокого разрешения. Производимые масс-спектрометры высокого разрешения основаны на обратной геометрии Нира—Джонсона, т. е. за магнитным сектором идет электростатический сектор. Недавно с источником на основе TP использован квадрупольный масс-спектрометр. Следует заметить, что по крайней мере один из выпускаемых приборов позволяет использовать на одной и той же квадрупольной системе источники TP и ИСП в качестве альтернативы.

Методы, основанные на использовании лазеров

Два основных метода основаны на применении лазера для ионизации: масс-спектрометрия с лазерно-индуцированной плазмой и резонасно-ионизационная масс-спектрометрия (РИМС). Лазерно-индуцированную плазму используют в качестве источника излучения в атомной спектрометрии с начала 1960-х. Однако, поскольку плазма является источником ионов, лазерно-индуцированную плазму можно использовать и в масс-спектрометрии [8.5-14]. Когда лазер фокусируют на поверхности мишени, материал поглощает фотоны. Это приводит к выбросу электронов и тяжелых частиц, которые поглощают фотоны лазерного пучка. Образуется микроплазма. Ее состав зависит от длины волны лазера, плотности мощности излучения и рабочего давления. В то же время, частично благодаря излучению лазера, частично за счет микроплазмы происходит абляция материала. Взаимодействие лазера с материалом зависит от размера пятна лазерного излучения, который в свою очередь зависит от типа используемого лазера, длины волны и фокусирующей системы. Размер пятна в несколько микрометров можно получить при использовании лазера, работающего в УФ-области спектра. Для этих целей можно использовать несколько типов лазеров: СОг-лазер (10,6 мкм), Nd:YAG-лазер (1064 нм, 532 нм, 355 нм и 266нм) и экси-мерные лазеры, такие, как XeCl-эксимерный лазер (308 нм) и ArF-эксимерный лазер (193 нм). В настоящее время производится ограниченное число таких систем (LAMMA). Система LAMMA основана на использовании Nd:YAGWia3epa малой энергии с модулированной добротностью, работающего на четвертой гармонике (266 нм) с двумя кристаллами — удвоителями частоты и времяпро-летного (ВП) масс-спектрометра. Использование ВП-масс-спектрометра возможно благодаря малой длительности импульсов лазера (15нс). Лазерный пучок фокусируют на мишень с помощью микроскопа, что приводит к разрешению по поверхности, равному 1 мкм. Пробы обычно имеют форму тонких срезов, толщина их, как правило, меньше 2 мкм. Это требование может представлять проблему при пробоподготовке и является существенным недостатком. Более современная система, появившаяся в 1980-хгг., способна работать с объемными пробами. Массовое разрешение ВП-масс-спектрометра в системе LAMMA ограничено значением 500-800, поэтому ведутся исследования новых конструкций с использованием преобразований Фурье (ион-циклотронный резонанс).

Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию