| Главная страница сайта | Услуги решения задач по химии |
| Лекции по химии | Учебник - общая химия |
Таблица 11.2-2. Некоторые аналитические приложения порошковой дифракции
|
Номер |
Область |
|
|
п/п |
Экспериментальные данные |
применения |
|
1 |
dhkl |
Параметры элементарной ячейки а, Ь, с, а, 0, 7, плотность Dx |
|
Для твердых растворов |
Состав |
|
|
Как функция температуры |
Коэффициенты термического расширения |
|
|
Как функция давления |
Внутреннее напряжение |
|
|
2 |
Ihkl |
Элементы симметрии, пространственные группы, решетки Браве |
|
Для твердых смесей |
Количественный анализ |
|
|
3 |
dhkl + Ihkl |
Идентификация Кинетические исследования Реакции в твердой фазе Фазовые диаграммы |
|
4 |
Pl/2 |
Размер кристаллитов |
|
5 |
dhkl + Ihkl + Pl/2 |
Анализ кристаллической структуры (метод Ритвельда) |
ширения или внутреннего напряжения кристалла. Первая из этих величин для всех систем за исключением кубической будет анизотропной.
2. Наличие элементов симметрии в элементарной ячейке приводит к одинаковым величинам Ihkl, что характерно для многих кристаллических систем. Винтовые оси и плоскости скольжения, в которых всегда имеется параллельный перенос, связаны с систематическими разрушающими интерференционными эффектами (систематические погашения) в случае некоторых типов брэг-говских отражений (например, 0/с0, к — 2п + 1), для 2х-винтовой оси второго порядка в направлении Ь. Систематические интерференционные эффекты также возникают в центрированных решетках Браве (например, для объемно-центрированной решетки Ihkl, где Л- + А: -+- / = 2п + 1, отражения отсутствуют). В случае гомогенных образцов, содержащих два или более микрокристаллических вещества, можно использовать характеристические порошковые линии для количественного анализа индивидуальных компонентов. Интенсивность Ihkl такой линии должна, в принципе, быть прямо пропорциональной количеству компонента, ответственного за ее появление. Однако поглощение рентгеновских лучей другими веществами, наличествующими в образце, может привести к систематическим погрешностям. Следовательно, в этих случаях весьма рекомендуется использовать метод внутреннего стандарта. В этом методе строят градуировочную зависимость при добавлении известных количеств исследуемого вещества к исходному образцу. Также важным условием является случайный характер ориентации кристаллитов в пространстве, а их размеры должны составлять от 5 • 10~5 до 5 • Ю-4 см.
□ Дифракция на порошках представляет собой мощный недеструктивный аналитический метод для идентификации твердых соединений.
3. Межплоскостные расстояния решетки dhkl и соответствующие им интенсивности Ihkl являются характеристическими величинами для кристал-
|
Если нужно решить контрольную по химии - обращайтесь к нам |
Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru
Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию