Положение неизвестного соединения в каталоге Ханаволта определяется значением d для линии с максимальной интенсивностью d — 3,12 А. Сравнение с имеющимися записями приводит нас к выводу, что искомым соединением является сфалерит, /З-ZnS. Современные дифрактометры снабжены программным обеспечением для автоматической идентификации числа компонентов в смеси веществ.

4. Ширины линий в случае рентгеновской дифракции на порошках обратно пропорциональны размеру кристаллитов. Измерение ширин на половине высоты /Зх/2 позволяет оценить размер частиц, что весьма интересно для фармацевтического производства. Прямая аналогия с рассеянием под малыми углами очевидна. В этом методе уширение неотклоненного рентгеновского луча используется для исследования размеров и формы некристаллических макромолекул.

□ Метод Ритвельда используется для определения кристаллической структуры соединений, которые существуют только в микрокристаллическом виде.

5. Данные, получаемые при помощи метода дифракции на порошках, одномерны. Так как для типичной кристаллической структуры можно ожидать до 100-200 измеряемых независимых брэгговских отражений hkl на атом, то перекрывание линий будет колоссальным для всех случаев, кроме самых простых. Хотя метод дифракции на порошках, конечно, на раннем этапе развития рентгеновской дифракции применяли для определения небольших структур, его ограничения по сравнению с исследованием монокристаллов (разд. 11.2.3) привели к длительному периоду относительного застоя. Однако структурное уточнение с аппроксимацией профиля по одномерным данным об интенсивности для дифракционных картин порошков при помощи метода Ритвельда привело к возрождению метода дифракции на порошках за последние 20 лет. Хотя применимость данного метода ограничена в настоящее время структурами с менее чем 200 параметрами (см. разд. 11.2.3), метод Ритвельда является весьма важным в материаловедении, где многие соединения, имеющие технологическое значение, доступны только в микрокристаллическом виде [11.2-2, 11.2-3].

11.2.3. Анализ кристаллической структуры Четырехкружный дифрактометр

Для сбора данных об интенсивностях Ihkl для монокристаллов, которые обычно имеют размеры в диапазоне 0,1-0,6 мм, используют управляемые компьютером дифрактометры. Для начального контроля кристаллов до сих пор используют фотографические методы регистрации. Схема четырехкружного дифрактометра представлена на рис. 11.2-11. Сцинтилляционный счетчик используется в качестве детектора и может быть повернут по 26-кругу для перехвата дифрагированного рентгеновского излучения, которое получают при помощи рентгеновской трубки, снабженной кристаллом-монохроматором. Стандартные запаянные трубки с нормальным фокусом могут работать при 2-2,4 кВт и позволяют собирать 100-200 отражений в час. Вращающиеся анодные генераторы, ранее использовавшиеся только в кристаллографии макромолекул

Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию