Главная страница сайта | Услуги решения задач по химии |
Лекции по химии | Учебник - общая химия |
уточнении структуры, в особенности при обработке теплового движения (рассмотренного как эллипсоидальное) и распределения электронной плотности (рассмотренного как распределение между дискретными сферическими атомами). Последнее утверждение со всей очевидностью неадекватно при описании валентных электронов молекулы. Оно приводит к хорошо известному систематическому укорачиванию длин связей для атомов водорода на 0,10-0,15 А при рентгеновском определении. Оно вызвано смещением распределения электронной плотности единственного валентного электрона атома водорода к более электроотрицательному партнеру (например, С, N, О). Поскольку дифракция нейтронов позволяет определить положения ядер, то сочетание этих двух методов (X-N-синтез) для получения высококачественных данных позволяет экспериментально определить распределение валентных электронов. Более детальное описание рентгеноструктурного анализа можно найти в современных учебниках [11.2-4, 11.2-5].
Литература
[11.2-1] Hahn, Т., (Ed.), International tables for crystallography, Vol. A. Space-group
symmetry. 2nd ed. Dordrecht: Reidel Publishing Co., 1987. [11.2-2] Krischner, H., Koppelhuber-Bitschnau, В., Rontgenstrukturanalyse und
Reitveldmethode. Braunschweig/Weisbaden: Vieweg, 1994. [11.2-3] Young, R.A., The Reitveld Method. New York: Oxford University Press, 1993. [11.2-4] Giacovazzo, C. (Ed.), Fundamentals of Crystallography. New York: Oxford
University Press, 1992. [11.2-5] Ghisker, J.P., Crystal Structure Analysis for Chemists and Biologists. New York:
VCH, 1994.
Вопросы и задачи
1. Какие методы могут быть использованы для определения длин связей и углов а) в газовой фазе; б) в твердых телах?
2. Перечислите семь кристаллических систем, а также их характеристические оси вращения и постоянные элементарной ячейки.
3. Как определяют индексы Миллера hkl для плоскости кристаллической решетки? Нарисуйте первые от начала координат плоскости решетки 110, 120 и 010 для двумерной проекции ромбической элементарной ячейки с параметрами а = 10 А, Ъ = 20 А, с = 5 А.
4. Изложите суть уравнения Брэгга. Объясните понятие разрешения в рентгеновской кристаллографии и определите наилучшее возможное разрешение для а) излучения CuKq с А = 1,5418 А; б) излучения МоКа с А = 0,7107 А.
5. Определите фактор атомного рассеяния / и-обсудите его зависимость от а) атомного номера; б) брэгговского угла в; в) длины рентгеновского излучения А; г) температуры Т.
6. Что собой представляет фазовая проблема рентгеноструктурного анализа и какие подходы применяются для оценки фазовых углов фикП
7. Опишите схему порошкового дифрактометра в геометрии Брэгга—Брентано?
8. Обсудите типичные аналитические приложения порошковой дифракции.
9. Обсудите критерии, используемые для оценки правильности рентгеноструктурного анализа.
10. Что является основными источниками: а) систематических погрешностей измерения и б) неадекватности структурной модели в рентгеноструктурном анализе?
|
Если нужно решить контрольную по химии - обращайтесь к нам |
Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru
Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию