Решение задач по химии. Учебник по аналитической химии

оже-спектроскопия (ЭОС), масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) и спектроскопия резерфордовского обратного рассеяния (POP), используемые для анализа состава поверхности, растровая электронная микроскопия (РЭМ) для исследования морфологии поверхности, аналитическая электронная микроскопия (АЭМ) для анализа межфазных границ, ИК- и КР-спектроскопия для молекулярного поверхностного и межфазного анализа.

В этой главе мы попытаемся кратко изложить основы, инструментальные аспекты и области применения основных методов анализа поверхности и межфазных границ. Методы будут разделены в соответствии с используемым типом воздействующих частиц или полей: фотонно-зондовые, электронно-зондовые, ионно-зондовые и полевые зондовые методы.

Обсуждение физики и химии твердого тела и поверхности не является целью данной главы. Подробную информацию по этим вопросам можно получить из специальной литературы [10-3, 10-4]. Для более глубокого ознакомления с основами методов обычно рекомендуют общие издания [10-5, 10-6]. Практически для каждого метода (или групп методов) изданы специализированные монографии, в которых детально изложены принципы, инструментальные аспекты и приложения методов [10-7-10-21].

Научные статьи, посвященные развитию методологии и практическому применению методов локального анализа и анализа поверхности, публикуются главным образом в следующих журналах: Surface Science, Surface and Interface Analysis, Journal of Vacuum Science and Technology, Nuclear Instruments and Methods B, Journal of Electrochemical Society, Thin Solid Films, Vacuum, Journal of Applied Physics.

Кроме того, в различных журналах по аналитической химии часто публикуют работы, посвященные анализу поверхности и межфазных границ, представляющие интерес для аналитиков-практиков.

Для анализа поверхности и межфазных границ используют потоки излучения в инфракрасном, видимом, ультрафиолетовом и рентгеновском диапазонах. Основные типы взаимодействия потоков фотонов с веществом, методы, основанные на этих взаимодействиях, и главные области применения этих методов перечислены в табл. 10.1-1. Поскольку КР- и ИК-спектроскопия обсуждались в гл. 9, далее мы не будем рассматривать эти методы.

□ Поскольку образец могут покидать только электроны, вылетающие из внешних поверхностных слоев, фотоэлектронная спектроскопия является методом анализа поверхности.

Как уже было сказано в предыдущем абзаце, поглощение электромагнитного излучения определенной энергии (в рентгеновском или УФ-диапазоне)

Если нужно решить контрольную по химии - обращайтесь к нам
Поможем быстро и качественно решить задачи по химии, выполнить контрольную работу или написать реферат. Консультируем по химии онлайн.

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию

Главная страница сайта	Услуги решения задач по химии
Лекции по химии	Учебник - общая химия