Решение задач по химии. Учебник по аналитической химии

— определение толщины тонких пленок (t > 10 нм), поскольку гд = kNt, где 1а — измеренная интенсивность линии элемента А, к — коэффициент пропорциональности, /V — поверхностная плотность (атом/см2), t — толщина пленки. Коэффициент к определяют при помощи веществ сравнения или из (рассчитанных) функций генерации и распределения рентгеновского излучения по глубине.

Несмотря на довольно ограниченную применимость, ЭЗМА является наиболее ценным средством изучения поверхности и межфазных границ, поскольку дает возможность широкого исследования характеристик материала в интере- ■ сующих микроучастках.

10.2.3. Аналитическая электронная микроскопия (АЭМ)

□ АЭМ является наиболее важным методом анализа нанометровых областей твердых тел.

АЭМ —наиболее важный метод наноанализа материалов. Он сочетает (рис. 10.2-11) просвечивающую (ПЭМ), отражательную электронную микроскопию (ОЭМ), дифракцию электронов (дифракцию прошедших быстрых электронов) для структурного анализа и элементный анализ при помощи рентгеновской эмиссионной спектроскопии и спектров энергетических потерь электронов (СПЭПЭ, спектроскопия характеристических потерь энергии прошедших электронов).

Рис. 10.2-11. АЭМ: Схема аналитического электронного микроскопа для получения изображения в режиме просвечивания и отражения, электронной дифракции, рентгеновского микроанализа и спектроскопии энергетических потерь электронов [10-12].

Проекционная линза для контроля угла сбора детектора

Кольцевой детекто] рассеянных электронов (темное поле)

Спектрометр энергетических потерь электронов

Если нужно решить контрольную по химии - обращайтесь к нам
Поможем быстро и качественно решить задачи по химии, выполнить контрольную работу или написать реферат. Консультируем по химии онлайн.

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию

Главная страница сайта	Услуги решения задач по химии
Лекции по химии	Учебник - общая химия