Главная страница сайта Услуги решения задач по химии
Лекции по химии Учебник - общая химия


Если исследуемый образец и образец сравнения сходны по составу, можно принять для первого хорошего приближения Сд/Сд = Ia/1%.-

В качестве альтернативного подхода для количественных оценок можно использовать коэффициенты чувствительности для различных элементов:

Сд _ 1а/Sд

где Si — коэффициент чувствительности, найденный для чистого элемента или образца сравнения (табулированная величина, которую можно найти в справочниках).

Правильность метода ЭОС составляет около 5% для полированных образцов при оптимальных условиях. Однако при анализе малых областей статистические погрешности начинают преобладать, увеличивая общую погрешность анализа.

□ Правильность анализа может ухудшиться в результате действия различных артефактов.

Кроме того, различные артефакты, например, электронно-стимулированное разложение материалов при высоких плотностях потока или изменение состава поверхности вследствие селективного ионного распыления при послойном анализе, может также снизить точность (правильность) анализа.

Концентрационные (относительные) пределы обнаружения зависят от поперечной локальности (пространственного разрешения) и чувствительности конкретной оже-линии. При локальности 100 нм относительный предел обнаружения оставляет примерно 1% для чувствительных линий; при локальности 1 мкм можно достичь пределов обнаружения около 0,1%. Этого достаточно для удовлетворительного детектирования долей монослоя вещества на поверхности. На рис. 10.2-14 в качестве примера приведен оже-электронный спектр поверхности излома никеля, отожженного при 600°С [10.2-3]. Можно обнаружить сегрегацию серы по границам зерен, приводящую к охрупчиванию сплава. Интенсивность оже-сигнала серы соответствует 0,2 монослоям серы на границе зерен (это означает, что всего 20% атомов на межфазной поверхности покрыты монослоем атомов серы). Этот пример иллюстрирует, с одной стороны, высокую поверхностную чувствительность ОЭС, а с другой стороны, — сильное влияние следовых количеств примесей (серы, фосфора) на механические свойства металлов.

□ ЭОС является важным методом распределительного анализа элементов.

Распределительный анализ элементов и фаз на поверхностях и межфазных границах является одной из важнейших задач электронной оже-спектроскопии. Для изучения пространственного распределения необходимы тонко сфокусированные электронные пучки (100-1000 нм в диаметре). Посредством сканирования поверхности по линии и двумерной области и используя изображения в режиме вторичных электронов, можно получить распределение элементов по поверхности (картирование) и количественное распределение элементов по линии сканирования. Этот прием широко используется при



 

Вернуться в меню книги (стр. 301-400)

 

Если нужно решить контрольную по химии - обращайтесь к нам
Поможем быстро и качественно решить задачи по химии, выполнить контрольную работу или написать реферат. Консультируем по химии онлайн.

 

Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию