Главная страница сайта Услуги решения задач по химии
Лекции по химии Учебник - общая химия


ции равен единице, а пропускание ВП масс-спектрометра выше 50% и можно детектировать отдельные ионы, абсолютные пределы обнаружения могут достигать 2 атомов. Относительные пределы обнаружения для аналитического участка диаметром 2нм и толщиной в один атомный слой составляют 2%.

Другим преимуществом принципа ионизации полем является тот факт, что выход ионизации равен единице для всех элементов независимо от состава матрицы. Таким образом, процедура количественного анализа просто состоит из определения числа различных ионов одного элемента и отнесения этого числа к общему количеству ионов (всех элементов):

£4

где Са — атомная концентрация элемента A, 7А — сумма всех ионов различных зарядов и масс элемента A, Y1Ц — общее число ионов в масс-спектре.

Аналитические погрешности количественных результатов возникают лишь вследствие статистического характера счета ионов. Поскольку десорбируется очень небольшое количество атомов, ошибки счета могут быть существенными.

Такие аналитические характеристики демонстрируют огромный потенциал ПИМ с атомным зондом для целей ультрачувствительного наноанализа поверхности. Этот метод обладает, однако, двумя серьезными недостатками — нельзя анализировать диэлектрики и образцу нужно придавать форму чрезвычайно тонкой иглы. Как правило, это реализуют при помощи импульсного электрохимического травления. Пробоподготовка становится особенно утомительной, когда нужно подготовить материал для селективного исследования определенной характеристики материала (например, границы зерен). Необходимо проводить неоднократную полировку поверхности, периодически контролируя наноструктуру при помощи просвечивающего электронного микроскопа.

Этот очевидный недостаток ограничивает практическое использование метода его применением только в исследовательских лабораториях.

10.5. МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ

ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ (СЗМ)

Термин «сканирующая зондовая микроскопия» объединяет группу методов, в которых производится сканирование тонким зондом (обычно острием иглы) поверхности образца при помощи пьезоэлектрических преобразователей. Сигнал, измеряемый при помощи этого локального зонда, записывают как функцию от пространственного положения зонда. В качестве аналитического сигнала, формируемого при помощи зонда, можно использовать, например:

— туннельные токи (сканирующая туннельная микроскопия, СТМ);

— различные силы (сканирующая силовая микроскопия, ССМ; например, атомная силовая микроскопия (АСМ), магнитная силовая микроскопия, электрическая силовая микроскопия, микроскопия вандерваальсовых сил);

— ионные токи (сканирующая микроскопия по ионной проводимости, СМИП);

— электромагнитное излучение (сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля).



 

Вернуться в меню книги (стр. 301-400)

 

Если нужно решить контрольную по химии - обращайтесь к нам
Поможем быстро и качественно решить задачи по химии, выполнить контрольную работу или написать реферат. Консультируем по химии онлайн.

 

Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию