□ Методом АСМ можно исследовать также диэлектрики.

3. Кроме проводящих образцов, методом АСМ можно легко получать изображения диэлектриков без предварительного покрытия их проводящей пленкой. Это означает, что пробоподготовка во многих случаях упрощается, и можно избежать артефактов, вызванных процессом нанесения покрытия. Следовательно, можно непосредственно изучать множество органических, биологических и также неорганических непроводящих образцов.

В качестве одной из важных групп образцов, которые можно легко анализировать методом АСМ и которые очень важны для промышленности, следует упомянуть стекла. На рис. 10.5-12 приведен пример, который мы будем обсуждать в связи с получением изображений in situ. Здесь следует упомянуть, что такую информацию о топографии подобных образцов нельзя получить напрямую другими методами, поскольку в случае АСМ изображение можно получить без специальной пробоподготовки.

□ Измерения in situ в газах и под слоем жидкости позволяют напрямую с высоким разрешением наблюдать процессы, происходящие на поверхности.

4. Важной особенностью АСМ для анализа поверхности является возможность проводить измерения in situ под слоем жидкости или на воздухе, что позволяет наблюдать процессы, происходящие на поверхности, работая с жидкостной ячейкой. Ячейка образована образцом в качестве дна, стеклянным покрытием сверху и силиконовой кольцевой изолирующей прокладкой между ними (образцом и покрытием). И образец, и кантилевер при измерении могут быть погружены в жидкость. Такие исследования можно проводить при контролируемом потенциале, что открывает ценные возможности для электрохимии. Более того, работа с жидкостной ячейкой дает возможность защитить чувствительные поверхности, проводя пробоподготовку и исследования in situ с защитным слоем инертной жидкости. На рис. 10.5-13 показаны два АСМ-изображения кристалла хлорида натрия, находящегося под слоем уксусной кислоты [10.5-15]. Временной интервал между изображениями равен 6 с. По мере растворения материала в жидкости можно наблюдать движение моноатомных ступенек вдоль атомарно плоской отколотой поверхности.

□ С помощью АСМ можно существенно расширить аналитические возможности во многих областях исследования.

Хотя область использования АСМ все еще развивается, большой потенциал этого метода для множества применений от материаловедения до биологии уже хорошо освещен в литературе. С аналитической точки зрения особый интерес представляет получение изображения in situ, поскольку это очень важно для исследования технологических процессов, например коррозии.

В рамках одного раздела только один пример можно показать, иллюстрирующий in situ наблюдение процесса коррозии на калиевоизвестковом кремниевом стекле [10.5-16]. На рис. 10.5-12 изображена поверхность поперечного скола стекла, сделанного во влажном воздухе в различное время после скалывания. Непосредственно сразу после скалывания можно видеть плоскую

Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию