рядка (разд. 11.2.1) могут служить прекрасной дифракционной решеткой для рентгеновского излучения, что имеет своим результатом прерывную картину рассеяния, характер которой зависит от относительных межатомных расстояний. Как мы уже говорили, напрямую сфокусировать эти лучи невозможно. В рентгеноструктурном анализе эту задачу решают соответствующими расчетами при помощи метода фурье-преобразования (разд. 11.2.3). В результате появления мощных компьютеров и соответствующих компьютерных программ то, что было невероятно трудной задачей даже еще в конце 1960-х, сегодня превратилось в рутинный аналитический метод. В настоящее время во всем мире ежегодно публикуется около 10 ООО кристаллических структур.

Рентгеновскую дифракцию обычно используют в структурном анализе для визуализации молекул. Однако существует ряд других дифракционных и спектроскопических методов, которые предоставляют возможность получать численные данные:

— дифракция нейтронов;

— дифракция электронов в газовой фазе;

— EXAFS-спектроскопия (развитая тонкая структура поглощения ренгенов-ских лучей, см. гл. 10, с. 315);

— вращательная спектроскопия;

— спектроскопия ЯМР жидких кристаллов.

□ Рентгеновская дифракция и дифракция нейтронов дополняют друг друга, так как рентгеновское излучение рассеивается электронами, а нейтроны — ядрами атомов.

Дифракция нейтронов, как и рентгеновская дифракция, используется для анализа кристаллических образцов. Этот метод является фактически дополнительным к методу рентгеновской дифракции: рентгеновское излучение рассеивается электронами, а нейтроны—ядрами атомов. Сочетание надежных данных, полученных при помощи этих двух дифракционных методов, позволяет получить информацию о распределении электронной плотности в молекулах кристаллов.

□ EXAFS-спектроскопия позволяет получить данные о межатомных расстояниях аморфных и газообразных образцов.

Так как молекулы в газовой фазе характеризуются всевозможными положениями, то дифракция электронов в этом случае дает непрерывную дифракционную картину, что обеспечивает возможность получать кривые одномерного радиального распределения в зависимости от межатомных расстояний и способности атомов рассеивать излучение. Таким образом, данный метод применим лишь для веществ, которые имеют относительно малые размеры молекул и, безусловно, требуемое давление пара. EXAFS-спектроскопия, которая может применяться как для аморфных, так и газообразных образцов, является достаточно близким методом, в котором фотоэлектроны испускаются исследуемыми атомами при облучении последних рентгеновским излучением с высокой энергией. Обратное рассеяние образовавшихся электронных волн на соседних

Copyright © 2007-2012 Zomber.Ru

Использование материалов сайта возможно при условии указания активной ссылки
Решить химию